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LEAK-S1微泄漏密封性測(cè)試儀 非破壞性密封測(cè)定儀采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
LEAK-S1真空衰減法無損密封檢測(cè)儀采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
LEAK-S1藥用玻璃瓶無損密封性測(cè)試儀采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
LEAK-S1微泄漏藥用玻璃瓶無損檢測(cè)采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
LEAK-S1西林瓶真空衰減微泄漏檢測(cè)儀采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
LEAK-S1微泄漏密封性測(cè)試儀采用真空衰減法測(cè)試，適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測(cè)。
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